XIII Международная конференция по импульсным лазерам и применениям лазеров AMPL-2017

10-15 сентября 2017 года, Томск

Авторский указатель

Автор: %D0%91%D0%B0%D0%BB%D0%B0%D0%BA%D0%B8%D1%80%D0%B5%D0%B2%C2%A0%D0%90.%D0%90. (%D0%A2%D1%80%D0%BE%D0%B8%D1%86%D0%BA%D0%B8%D0%B9%20%D0%B8%D0%BD%D1%81%D1%82%D0%B8%D1%82%D1%83%D1%82%20%D0%B8%D0%BD%D0%BD%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D1%86%D0%B8%D0%BE%D0%BD%D0%BD%D1%8B%D1%85%20%D0%B8%20%D1%82%D0%B5%D1%80%D0%BC%D0%BE%D1%8F%D0%B4%D0%B5%D1%80%D0%BD%D1%8B%D1%85%20%D0%B8%D1%81%D1%81%D0%BB%D0%B5%D0%B4%D0%BE%D0%B2%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D0%B9%20(%D0%A2%D0%A0%D0%98%D0%9D%D0%98%D0%A2%D0%98),%20%D0%A2%D1%80%D0%BE%D0%B8%D1%86%D0%BA,%20%D0%A0%D0%BE%D1%81%D1%81%D0%B8%D1%8F)

Список докладов:

  1. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Спектральные характеристики катодной области перенапряженного разряда в дейтерии, формирующего сильноточный пучок убегающих электронов.
  2. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Сопоставление поперечных размеров светового пятна и модифицированной поверхности на подложке, обрабатываемой плазменной струей
  3. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Распространение отрицательного стримера по поверхности жидкого пузыря.
  4. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Эволюция поперечной структуры сильноточного пучка убегающих электронов вдоль его распространения в водороде и дейтерии при низком давлении
  5. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Развитие контракции перенапряженного разряда в дейтерии, формирующего сильноточный пучок убегающих электронов.
  6. Ю.С. Акишев, А.А. Балакирев, В.Б. Каральник, М.А. Медведев, А.В. Петряков, Н.И. Трушкин, А.Г. Шафиков
    Влияние скорости движения подложки на форму пятна от плазменной струи, ударяющей в подложку.

Вернуться