КОНФЕРЕНЦИИ И СИМПОЗИУМЫ
ИНСТИТУТ ОПТИКИ АТМОСФЕРЫ
им.
В.Е. ЗУЕВА СО РАН
English
Скрыть ×
Главная
Оптика атмосферы и океана
Молекулярная спектроскопия высокого разрешения
2023 (20)
2019 (19)
2015 (18)
Общая информация
Место проведения
Тематика и формат
Программный комитет
Местный оргкомитет
Организаторы
Спонсоры
Важные даты
Приглашенные докладчики
Лекции
Программа
Авторский указатель
Организации-участники
Фотографии
Дополнительная информация
Родственные конференции
2012 (17)
2009 (16)
2006 (15)
2003 (14)
1999 (13)
Импульсные лазеры и применения лазеров
Аэрозоли Сибири
Школа молодых учёных им. А.Г. Колесника
Распространение радиоволн
Современные изменения метанового цикла
Материаловедение, технологии и экология
Чтения, посвященные юбилею академика В.Е. Зуева
XXV Международная конференция по лазерным радарам
История
Сайт ИОА СО РАН
English
☰
Главная
»
Молекулярная спектроскопия высокого разрешения
»
2015 (18)
» Авторский указатель
XVIII Международный симпозиум и школа молодых учёных по молекулярной спектроскопии высокого разрешения
30 июня - 04 июля 2015 года, Томск
Авторский указатель
Автор: Ponurovskii Y.Y. (General Physics Institute RAS, Moscow, Russia)
Список докладов:
Ш.Ш. Набиев, В.М. Семёнов, П.Л. Меньшиков, Л.И. Меньшиков, Г.Ю. Григорьев, Д.Б. Ставровский, Я.Я. Понуровский
Тонкая структура Q-ветви колебательной полосы ν
1
+ν
3
UF
6
: исселдования с помощью квантового каскадного лазера и Фурье-спектроскопии
Ш.Ш. Набиев, В.М. Семёнов, Г.Ю. Григорьев, Д.Б. Ставровский, Я.Я. Понуровский
Применение диодной лазерной спектроскопии (ДЛС) ближнего ИК-диапазона для измерения температуры и концентрации метана при различных давлениях
В.А. Капитанов, К.Ю. Осипов, А.Е. Протасевич, Ю.Н. Пономарев, Я.Я. Понуровский
Проблема формы контура линии высокоточных спектров самоуширения CO
2
в диапазоне давлений 0.002 - 1 атм: измерения и тестирование моделей
В.А. Капитанов, К.Ю. Осипов, А.Е. Протасевич, Я.Я. Понуровский
Эффекты ветра, изменения скорости и интерфференции спектральных линий полосы 30013←00001 CO
2
при самоуширении: Измерения и тестирование моделей
Вернуться